Eles Semiconductor Equipment, società quotata all'AIM Italia, attiva nel settore del testing della microelettronica, comunica di aver avviato la qualifica della soluzione “STRIP TDBI” (Test During Burn In) come nuovo approccio al test del dispositivo per uno dei primi 20 player mondiali del settore dei semiconduttori.
Tale nuovo approccio introduce il processo di test direttamente nel processo produttivo, prima della singolarizzazione di ogni dispositivo nel suo rispettivo package, ossia quando i chip sono ancora tutti collegati sulla strip.
Il processo produttivo risulta molto più efficiente, e consente di migliorare l’affidabilità del prodotto verso zero difetti e di ottenere forti riduzioni del costo del test e quindi del costo del dispositivo stesso.
L’innovazione consente di attivare il TDBI su tutte le applicazioni, anche “low cost”, cosa che l’approccio tradizionale non permetteva per via del costo troppo alto del test stesso.
Infatti, nel processo di fabbricazione dei Semiconduttori, il costo del test può arrivare a superare il costo stesso del dispositivo.
Antonio Zaffarami, presidente della società dichiara:
“Questa innovazione è una vera soluzione cost effective”.
Il nuovo dispositivo “low cost”, senza la soluzione sviluppata da Eles, non avrebbe potuto essere offerto al mercato automotive.
L’applicazione in oggetto prevede una fixture che consente di testare 1.200 dispositivi contemporaneamente.
Il risparmio conseguito con questo approccio si stima superiore al 70%.
